本文標(biāo)題："超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備實驗室顯微鏡"
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超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備實驗室顯微鏡
鑒于高分辨率工作中干涉效應(yīng)的重要性，我劃出了單獨幾章專
門討論相干性和波動光學(xué)。其中包含了一些數(shù)學(xué)內(nèi)容，但我已盡量
使其簡化。
遺憾的是：雖然理論家們作了很大努力，但是尚未只到一般樣品的高
分辨率象和樣品結(jié)構(gòu)之間某種簡單的解析關(guān)系。因此必須仔細研究
可以用樣品結(jié)構(gòu)作簡單圖象解釋時的各種不同的實驗條件。只有理
解了影響圖象的實驗參量，才能對某種特定樣品的實驗條件作出明
智的選擇。例如，高分辨率的暗場象很可能包含一些錯誤的特征。
然而，由于制樣技術(shù)的進展(現(xiàn)在有些樣品可以制成僅為幾個nm厚)
和使用了較高的加速電壓，所以有關(guān)成象的最簡單理論很可能繼續(xù)
流行下去。
超高分辨顯微學(xué)研究所需專門設(shè)備的少數(shù)研究性實驗室。目前這些
方法正迅速普及。
若圖象分辨率限制在0．36am左右，則現(xiàn)在可能提出一種直
接的步驟來記錄許多樣品的象，它們可以無困難地按樣品結(jié)構(gòu)予以
解釋。
常規(guī)透射型電子顯微鏡與光學(xué)顯微鏡相比，就其圖象襯度(強
度變化)是由于樣品上逐點的光學(xué)吸收不同所引起的，從這一點來
看，兩者是極其相似的。許多電子顯微學(xué)家也用類似的方法來解釋
其電鏡象，他們用‘吸收’來表示電子在物鏡孔徑(aperture，或
光闌)。外的散射。實際上電子絕不會被樣品‘吸收’，它們只能
因大角度散射到物鏡光闌以外而從圖象中丟失，或者是由于在樣品
中能量損失和波長變化，它們可能在距顯示彈性散射象的觀察屏較
遠的一個平面上聚焦。
故這種離焦非彈性’散射或能量損失象
對正聚焦(in-foeus)彈性散射象的影響，只是提供了一個均勻的背
景。 因而圖象襯度一般可理解為由于在大角度散軌即大‘質(zhì)量厚
度’區(qū)域產(chǎn)生的強度損失而造成的，這種大角度散射射線被物鏡光
闌所截住。描述這個過程的理論是非相干成象理論
通過比較可知，高分辨率透射電子顯微鏡與光學(xué)相(位)襯(度)
顯微鏡(phasecon~rastmicroscope)是十分類似的。
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