本文標題："晶粒測量用工具顯微鏡-晶粒邊界測量金相顯微鏡"
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人瀏覽過-----時間：2014-10-5 20:38:57
雖然晶粒內(nèi)部位錯密度的增加是很重要的加工硬化的來源，
但是我們不可忘記，晶粒邊界也是相當有效的阻止滑動的障礙，
所以也是一種加工硬化的來源。當形變量低時，晶粒邊界硬化占主
導地位，此時晶粒內(nèi)的位錯密度很低，晶粒邊界成為滑動的主要障
礙;當位錯穿過晶粒內(nèi)的位錯林或纏結越來越難時，
也就是當應變量大時，穎拉邊界硬化的相對重要性就降低了。
下面我們將主要考察晶粒邊界的存在如何增加使樣品變形所必需的
應力以及這一應力(對于一給定的應變)與晶粒大小的關系。
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