本文標(biāo)題："截面測量顆粒大小分布計(jì)量圖像顯微鏡"
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截面測量顆粒大小分布計(jì)量圖像顯微鏡
截面測量計(jì)量顆粒的空間大小分布
對集合體中的顆粒一般是從試樣薄片和光片中某個(gè)截面上測量的。由
于截面效應(yīng)所測得的并不是顆粒空間真正的大小和分布，因此只有在一定
的假設(shè)條件下，才能從截面的測量值推導(dǎo)出顆粒空間大小的分布。最簡單
的是把非球狀顆粒假想成同體積的球狀顆粒，按體視學(xué)方法根據(jù)投影尺寸
計(jì)算球狀顆粒在空間尺寸的分布，主要有截面圓法和弦長法，相比之下前
者精度要高一些。進(jìn)行全自動圖像分析時(shí)要求用圖像對比度好的樣品。需
要采用半自動或人工分析時(shí)，多采用弦長法，這樣測量及其數(shù)據(jù)處理要簡
單得多。
1．弦長法
通過測量截平面上測試線段在顆粒上所截得弦長計(jì)算顆粒在空間尺寸
分布的方法，稱為弦長法。
2．截面圓法
從測定顆粒截面圓的直徑分布來計(jì)算顆粒在空間尺寸分布的方法，稱
為截面圓法。
圖像分析粉料試樣的制備
圖像分析的測量范圍和儀器的分辨本領(lǐng)有密切關(guān)系，不同儀器的放大
倍數(shù)和分辨本領(lǐng)測量范圍相差甚大，對制備試樣的方法和要求亦不一樣。
圖像分析儀的分辨本領(lǐng)隨聯(lián)機(jī)的顯微鏡分辨力而定，光學(xué)儀器的放大倍數(shù)
是由幾何光學(xué)決定的，而電子儀器的分辨本領(lǐng)則取決于衍射理論。現(xiàn)分別
簡單介紹它們試樣的制備方法和要求。
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