本文標(biāo)題:"量測(cè)方式的選擇對(duì)于量測(cè)結(jié)果有很大的影響-測(cè)量工具顯微鏡"
發(fā)布者:yiyi ------ 分類(lèi): 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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接觸式測(cè)頭量測(cè)方式
使用接觸式測(cè)頭做曲面量測(cè)時(shí),量測(cè)方式的選擇對(duì)于量測(cè)結(jié)果有很大的影響。
通常使用于曲面量測(cè)的觸發(fā)式測(cè)頭,其量測(cè)方式的型態(tài)可分為觸發(fā)式與連續(xù)式量測(cè)兩種。
(一) 觸發(fā)式量測(cè)
一般三次元量測(cè)儀最常使用觸發(fā)式量測(cè),當(dāng)觸發(fā)式測(cè)頭觸發(fā)并產(chǎn)生訊號(hào)時(shí),既表示測(cè)頭與待測(cè)物間的接觸力大于設(shè)定值時(shí),使接觸點(diǎn)轉(zhuǎn)向,線(xiàn)圈上的電阻會(huì)產(chǎn)生變化,進(jìn)而送出一觸發(fā)訊號(hào)到位置檢測(cè)器,三軸位置檢測(cè)器收到訊號(hào)后,將各軸座標(biāo)的位置紀(jì)錄下來(lái),利用此一方式量測(cè)的速度較慢。
(二) 連續(xù)式量測(cè)
連續(xù)式量測(cè)常用于曲面掃描,利用測(cè)頭和工件接觸時(shí)所產(chǎn)生的三軸位置變化量傳送到控制器上,以使測(cè)頭能沿著曲面的高低起伏作自動(dòng)掃描量測(cè)。
量測(cè)軟體系統(tǒng)架構(gòu)
量測(cè)軟體系統(tǒng)架構(gòu)主要可分為三部分:系統(tǒng)設(shè)定、基本量測(cè)及計(jì)算、掃描量測(cè)。
(1) 系統(tǒng)設(shè)定
與量測(cè)有關(guān)的前置準(zhǔn)備或報(bào)表均屬此類(lèi)。
例如:校正探針,選擇探針,工作面設(shè)定,機(jī)械歸零,報(bào)表和量測(cè)參數(shù)設(shè)定等。
系統(tǒng)設(shè)定雖非扮演主要角色,但對(duì)量測(cè)的方便性及精確性,卻提供不少助益,每一次操作中均要使用。
(2) 基本量測(cè)及計(jì)算
可進(jìn)行各種形狀量測(cè)(點(diǎn)、線(xiàn)、面、圓、圓錐、圓柱等),尺寸計(jì)算(距離、角度)及幾何公差檢測(cè)(平行度、垂直度...等等)。
(3) 掃描量測(cè)
主要針對(duì)逆向工程之需求而發(fā)展,因此量測(cè)功能不在求簡(jiǎn)單,而是求完整,希望能提供逆向工程所需之各項(xiàng)量測(cè)功能。
掃描量測(cè)的功能又可分為系統(tǒng)設(shè)定及量測(cè)兩類(lèi):與系統(tǒng)設(shè)定有關(guān)的功能,包括座標(biāo)系統(tǒng)設(shè)定,座標(biāo)系選用,掃描方式及參數(shù)設(shè)定;而與量測(cè)相關(guān)的功能,包括等高度,等半徑,3D曲線(xiàn)量測(cè),所有資料均需經(jīng)測(cè)頭半徑補(bǔ)正,以獲得正確的工件表面點(diǎn)資料。
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