本文標(biāo)題："磁場源往往處于均勻磁場-磁力材料技術(shù)"
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磁場源往往處于均勻磁場-磁力材料技術(shù)
由于被探測磁場源往往處于均勻磁場(如地磁場)環(huán)境之中，所
以宜用磁強梯度計探測之。被探測磁場源在自身周圍建立的分布磁
場的梯度與被測點和它的距離的四次方成反比，所以，磁通門磁強
梯度汁測量桿應(yīng)趨近磁場源探測之。如果要求定量檢測，應(yīng)保持它
們的約定距離，并固定它們的相對位置，磁強梯度計測量桿應(yīng)當(dāng)對
準(zhǔn)約定方向，或轉(zhuǎn)動位置以測得最大梯度值；如果只要求定性檢測
，相對距離和位置不必很準(zhǔn)確，且往往以差值探頭替代梯度探頭。
如果被探測磁場源的分布磁場比較強，也可以普通磁強計探測，分
布磁場的強度與探頭和磁場源的距離的立方成反比。
4．磁性參數(shù)測量磁性材料樣件本身，或在附加裝置的作用下
．構(gòu)成一個磁場源，且在其周圍空間建立的磁場與材料某項磁性參
數(shù)具有單值函數(shù)關(guān)系者，均呵利用磁通門磁強計檢測該項磁性參數(shù)
。可以根據(jù)它們之間的數(shù)學(xué)關(guān)系式汁苒．也可以對比方法確定它們
的比例系數(shù)(一一對應(yīng)比值，但不～定是常系數(shù))。實現(xiàn)這種問接測
量方法的條件是它們的函數(shù)式中的參變量(工程檢測中稱為影響量)
必須為穩(wěn)定的已知數(shù)，或者能根據(jù)影響量的變化加以補償或修正。
5．非磁量磁測 本王質(zhì)卜是以有磁性物體表征被測物理量，
所段滿j：磁場源探測或磁性參數(shù)測量的特殊應(yīng)用。
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磁場源往往處于均勻磁場-磁力材料技術(shù),金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
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