本文標(biāo)題："層的厚度測(cè)量各種物理分析顯微鏡,精確測(cè)量晶格"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動(dòng)態(tài) ------
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層的厚度測(cè)量各種物理分析顯微鏡,精確測(cè)量晶格
物理分析
各種物理分析技術(shù)。從樣品的物理分析可以
得到晶向、晶體完整性、缺陷與位錯(cuò)密度、切割或拋光損傷的程
度、層的厚度測(cè)量以及表面沾污的研究等情況。在大多數(shù)情況
下，體材料和表面的分析方法之間是沒(méi)有明顯差別的，而在有差
別的地方
腐蝕和顯微術(shù)
物理分析最重要的方面是采用普通顯微鏡或電子顯微鏡直接
觀察材料。結(jié)構(gòu)缺陷常常可以利用適當(dāng)?shù)母g方法來(lái)增強(qiáng)。這個(gè)
方法的突出的優(yōu)點(diǎn)是效率高而且不需要昂貴的儀器設(shè)備。
X射線技術(shù)
在各種方法中，利用X射線花樣是有益的。勞埃法通常用于
單晶定向，使晶體受到白X射線束的照射。為了保證晶體中各個(gè)
平面都能滿足布拉格定律，必須使X射線束的波長(zhǎng)范圍適應(yīng)這種
變化的需要。一般是攝取背反射照片，所得的光斑花樣位于雙曲
線上。所有的光斑均是從單晶區(qū)的各個(gè)平面反射而產(chǎn)生的。這種勞
埃花樣反映出晶體的對(duì)稱性。體單晶是按大致給定的方向切割的，
然后把它裝在測(cè)向器的支架上，再在X射線裝置上進(jìn)行調(diào)準(zhǔn)。定
向以后可以把整個(gè)部件安裝在切割機(jī)上，按給定的方向切割。
透射X射線形貌圖是另一種非常有用的方法，不僅適用于位
錯(cuò)的觀察，而且也適用于精確測(cè)量晶格參數(shù)和應(yīng)力的分布。對(duì)于
砷化鎵和磷化銦來(lái)說(shuō)，為了使X射線透過(guò)去，必須將樣品減薄到
70微米左右。反射形貌圖就不受厚度的限制，使測(cè)量能在很淺的
表面層內(nèi)進(jìn)行。穿透深度是反射平面的函數(shù)，它決定了表面的傾
角和布拉格角。采用CuK射線，對(duì)砷化鎵來(lái)說(shuō)，其穿透深
度在0．5到22微米之間，而對(duì)磷化銦來(lái)說(shuō)，其穿透深度為0．3到11
微米
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