本文標題：" 環(huán)境試樣能譜分析最小可測量值評估方法"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2012-10-25 5:40:31
環(huán)境試樣放，射性分析及能譜分析最小可測量值評估方法
單位：活度/體積或活度/質(zhì)量(Bq/L、mBq/m3或Bq/kg)
T：適當之空白試樣計數(shù)時間(分)。
B：適當之空白試樣的計數(shù)值，適宜空白試樣含合適物質(zhì)與雜質(zhì)(或干擾物質(zhì))；化學處理程序、計測方法、計測時間及幾何形狀均與待分析之試樣相同。
E：待測核種的計數(shù)效率。
R：化學回收率。
V：試樣量，以體積或質(zhì)量為單位表示。
后一篇文章：何為材料的切削性和表面粗糙度？ »
前一篇文章：« 金相分析欄目-良好的切削劑應(yīng)具備的性質(zhì)有哪些？
tags:顯微鏡百科,金相顯微鏡,上海精密儀器,
環(huán)境試樣能譜分析最小可測量值評估方法,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應(yīng)
本頁地址：/gxnews/294.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/