本文標題："細粒狀土壤的顆粒大小特征輪廓測量圖像顯微鏡"
發(fā)布者：yiyi ------ 分類: 行業(yè)動態(tài) ------
人瀏覽過-----時間：2015-8-30 15:49:22
細粒狀土壤的顆粒大小特征輪廓測量圖像顯微鏡
分級分類系統(tǒng)是基于顆粒大小的分類和分布。這個系統(tǒng)一般
是甩描述語對土樣分級分類。例如，“分級不好的砂”是把樣本首
先分在砂類，并認為砂的顆粒大小全都在一個很窄的范圍內(nèi)。分
類為“均勻砂”意味著是同樣的材料。
有許多理由可以說明為什么這樣的分類對于工程目的常常限
制使用或在某些情況下甚至導致誤解。例如：顆粒大小的數(shù)據(jù)，雖
然對于與無內(nèi)聚性粒狀材料相關的性能是有用的
但是一般說來，對內(nèi)聚性的細粒狀土壤的顆粒大小或性能特征的
分類則沒有用。后一類型土壤的性質(zhì)取決于它們的形成和過去的
應力歷程，而這兩者都不能由任何分級分類法鑒定。
事實上在自然土壤的結構中，這些應力歷程的任何跡象在進
行顆粒大小分析或比重計分析時已被破壞，這是由于分析時必綴
使土體由它的自然狀態(tài)經(jīng)受擾動。最后對于某些類型的土壤，顆
粒大小的數(shù)據(jù)的含意非常可疑，例如，在現(xiàn)場不能清楚得到顆粒大
小的殘積土就是如此。在上述土壤中，試驗前給出的解集程度常
常決定分析中遇到的顆粒大小的范圍。
后一篇文章：土壤形成物相凝聚顆粒特征-土壤剖面截面分析顯微鏡 »
前一篇文章：« 交錯層、顆粒大小及較小的沉積構造測量顯微鏡
tags:材料學,技術,光學,金相顯微鏡,上海精密儀器,
細粒狀土壤的顆粒大小特征輪廓測量圖像顯微鏡,金相顯微鏡現(xiàn)貨供應
本頁地址：/gxnews/2803.html轉(zhuǎn)載注明
本站地址：/
http://www.xianweijing.org/