本文標(biāo)題："顯微鏡分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應(yīng)用"
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顯微鏡分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應(yīng)用
光譜光度學(xué)有兩個(gè)主要目的:
(1)測定試樣吸收的輻射能數(shù)量
(2)測定已知輻射通量投射在試樣上所發(fā)生的變化.‘其中
包括各種反射、熒光及其光譜分布.
在分析化學(xué)、光化學(xué)和物理光學(xué)的實(shí)際應(yīng)用中，經(jīng)常是測定
試樣的吸收量。然而，當(dāng)我們對光譜吸收度、衰減和顏色的評價(jià)
以及材料的外貌等感興趣時(shí)，則第二種目的卻變得重要了.因?yàn)?/div>
普通的光譜光度學(xué)不直接測量吸收度，必須由實(shí)驗(yàn)測得的透射比
來確定。
通過測量吸收產(chǎn)生的熱效應(yīng)來直接確定試樣的吸收度的新方
法已經(jīng)趨于完善。這就是光聲光譜法和光熱光譜法。
在工業(yè)試驗(yàn)室，廣泛使用相對法測量慢反射比.該方法的優(yōu)
點(diǎn)是，儀器簡單，測量方便，缺點(diǎn)是，它的測量準(zhǔn)確性與所用傳
遞標(biāo)準(zhǔn)的有關(guān)，特別是，當(dāng)待側(cè)試樣的反射角分布與標(biāo)準(zhǔn)不相同
時(shí)，將會引入明顯的誤差。
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