本文標題："礦物中微米大小的礦物包裹體鑒定巖石顯微鏡"

礦物中微米大小的礦物包裹體鑒定巖石顯微鏡

    對主礦物中幾個微米大小的礦物包裹體進行鑒定需要有特殊的技術(shù)和方法，
大體上可提出如下三種解決途徑: 一種是把礦物包裹體從主礦物中取出來，用X
射線衍射方法對其進行鑒定，例如新礦物一四方硫鐵礦就是用這種途徑鑒定出來
的

    另一種是在兩面拋光薄片中，對包裹體礦物進行拋光后，用電子探針分析來
鑒定它們。第三種方法是把兩面拋光薄片埋到克里斯塔邦膠里，然后對包裹體所
在部位進行離子減薄，再把減薄的樣品在透射電鏡上用電子衍射和成分分析的裝
置來對包裹體礦物作鑒定。

    對共生關(guān)系和結(jié)構(gòu)進行研究是巖石顯微鏡的一個主要功能，在這方面還找不
出比它更好的技術(shù)來代替。限于篇幅，只重點說明一個問題，就是使用兩面拋光
薄片和超微薄片的效果要比一般的巖石薄片效果好得多。由于這兩種薄片能給出
一個非常透明的視域，從而可更清晰地觀察礦物之間的結(jié)構(gòu)關(guān)系，而且對相鄰礦
物接觸界面和包裹體本身的觀察要更清晰一些。
 

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